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產品型號：Acculogic FLS980
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產品價格：
折 扣 率： 0
最后更新：2024-09-26
關 注 度：4576
生產企業：銳峰先科技術有限公司
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產品詳細介紹Acculogic FLS980 飛針測試儀
Acculogic flying probe testers
Acculogic先進的產品，FLS980系列飛針測試儀、ICT7000內部電路測試儀和ScanNavigator邊界掃描測試套件，這些產品是先進的，可擴展的解決方案用來解決廣泛的測試挑戰。
Acculogic系統可用來適應各種各樣的應用和客戶。我們高性能測試系統的核心是可以接受下一代測試的挑戰。
FLS980 Series III 產品特點
全功能雙邊系統
閉環AccuFastTM系統，最小1um的步進精度，正負10um定位重復性
最高可配置22組閉環飛針
可程序控制探針角度正負6度
電測試能力強，包含模擬信號、數字信號、混合信號和邊界掃描
先進的激光、光學和熱測量以及檢視能力
帶電和功能測試（可至GHz頻率范圍）
通過固定旋釘最高可至128個非復用測試通道
潛伏開路探測
逆向工程工具套件
最大可支持32”x 38” (813 x 965 mm) 電路板
測試入口
不斷縮小的部件尺寸和更密集的芯片級封裝技術對測試工程師提出了新的挑戰。傳統上安裝在pcb上的測試板正在從許多設計中消失，從而減少物理測試入口。. 為了迎接新的挑戰，飛行探測器必須以良好的精度進行操作。FLS980采用高度可重復的閉環直線電機驅動器和類似于操縱桿的可變角度探頭模塊，實現了良好的物理探測，并保證了像01005s這樣的小部件的可重復探測. FLS980在被測單元(UUT)的組件和焊點一側提供雙面探測和最多22個探頭模塊，以促進有效率的單次測試。
精確
高分辨率基準攝像機和激光考慮了翹曲因素，允許在X, Y和z平面的可測試板區域進行精確的板檢測。精密閉環平面直線電機(shuttles)與AccuFastTM驅動系統(1微米最小步長，10微米定位重復性)獨立移動探針模塊和攝像機。探測模塊利用等長度的同位探針接觸UUT上的目標點。每個可變角度探測模塊都可以從任意方向從0到6自動調整探測角度。結合獨立的shuttle和探測模塊(XYZ)運動，確保良好的測試點的可測性。現在，你可以依靠FLS980來測試板，即使它的布局、尺寸或技術，使傳統的在線測試和其他飛針測試成為障礙。
探測角度
印刷電路板的翹曲是SMT電路板裝配、檢驗和測試過程中需要考慮的一個常見問題。在飛行探針測試中，板翹曲導致偏移而改變了目標點的物理位置。
當探測角度為0度時，板曲不會造成探測誤差，但隨著探測角度的增大，探測誤差也增大。使用15度探測角度在0.5毫米翹曲的板上不能可靠地探測到 0201器件的標準焊盤。將探測角度降低到3或4度可以減少與翹曲相關的不確定性，并得到可靠的探測。FLS980可變角度探測模塊提供良好探測，任意方向從-6度傾斜至+6度，探針定向測試點，覆蓋約60mm x 60mm的面積。隨著探測角度的增加，探頭滑移增加。探頭滑移會損壞焊盤和過孔，并在板上留下不可接受的痕跡。
探針模組類型:
FLS980系統可以在頂部和底部配置最多22根飛針，以確保良好的測試覆蓋率和較小測試時間。系統有三種類型的飛針模塊可選：
APM 800 先進型飛針模組，探測角度可編程。( 0 to +6°)
BPM 700基本型飛針模組，探測角度固定 (+6°)
VPM 600 (+0°) 垂直型飛針模組
系統可配置多種可變角度和固定角度飛針模組.
飛針驅動系統具有1微米最小步距、10微米定位重復性的定位分辨率，可在生產環境中可靠的探測100微米的目標尺寸。Acculogic公司將繼續開發更高精度的飛針模組和識別系統，作為未來的升級.
飛針模組規格:
3D 可編程角度 : 0° to 6° (+6° 的固定角度的飛針)
速度可編程
飛針尖端半徑: 50 μm – 500 μm
尖端外形可選: 針狀, 杯狀, 圓頂型
最大探測高度: 45mm
最大元件高度: 85mm
速度
行探頭的測試時間主要取決于測試步數和飛針運動的速度。短路測試消耗了很大部分測試時間。FLS980柔性測量系統提供了一系列的測試策略，包括邊界掃描(JTAG)和NetScanTM，可以在不影響測試覆蓋率和重復性的情況下顯著減少測試時間。
測量系統
FLS980 s高速(高達1000測量/秒)模擬測量系統為所有22根飛針(頂部和底部)提供4線測量能力。所有飛針都可以作為分立和集成模擬數字器件中的驅動器、傳感器或隔離和集成模擬/數字元件上的保護裝置進行在線測試。模擬元件測試包括電阻、電容、電感、二極管、齊納、晶體管、場效應管、晶閘管、光耦合器、開關、微調器、繼電器、保險絲和連接器等。測試模式包括2線測試、4線測試(以及僅使用兩個測試點的獨特的準4線測試)。使用兩組單獨可用的刺激/測量資源進行開關測試。此外，可以使用電壓測量模塊對電壓調節器和運算放大器進行通電測試。 |
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| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2011-04-15
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