ZEISS METROTOM 工業(yè)CT斷層掃描儀
|
 |
產(chǎn)品型號：ZEISS METROTOM
產(chǎn)品代碼：Z2
產(chǎn)品價格：0
產(chǎn)品編碼：Z002
計量單位：臺
折 扣 率： 0
最后更新：2018-08-17
關(guān) 注 度：6550
生產(chǎn)企業(yè)：廣東越聯(lián)儀器有限公司
|
|
|
 與企業(yè)聯(lián)系時請告知該信息來自教育裝備網(wǎng)！ |
|
|
產(chǎn)品詳細介紹斷層工業(yè)CT掃描儀
產(chǎn)品詳情 Product Information
基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）
利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。
測量與檢驗整體部件
ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用ZEISS METROTOM計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數(shù)據(jù)，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
|
|
| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2018-08-17
|
|
|
在線客服
